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四探针测试仪RTS-8

更新时间:2017-05-23 15:03:00

四探针测试仪RTS-8

四探针测试仪RTS-8

仪器设备介绍

性能指标:
(1)测量范围  电阻率:10-5~105 Ω.cm
(2)方块电阻:10-4~106 Ω/□
(3)电导率:10-5~105 s/cm
(4)电阻:10-5~105 Ω
(5)可测晶片直径:200 mm × 200 mm
(6)恒流源:电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100m
(7)六档:各档电流连续可调
(8)数字电压表量程及表示形式:000.00~199.99 mV
(9)分辨力:10 μV
(10)输入阻抗:>1000MΩ
(11)精度:±0.1%
(12)显示:四位半红色发光管数字显示


适用领域:主要用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)。